應(yīng)用范圍：

本試驗(yàn)法適用于組件、裝備及電工產(chǎn)品在運(yùn)輸或使用過(guò)程中，遭遇次數(shù)少且非重復(fù)性之沖擊環(huán)境。

本試驗(yàn)法適用于無(wú)包裝之裝備及含運(yùn)輸箱之裝備。如為后者，則運(yùn)輸箱可視為試件本體之一部分。

試驗(yàn)嚴(yán)厲度：

沖擊試驗(yàn)之嚴(yán)厲度及波形應(yīng)盡可能模擬實(shí)際運(yùn)輸或操作時(shí)所遭遇之環(huán)境效應(yīng)或滿(mǎn)足試件結(jié)構(gòu)整體性測(cè)試之需求。

一般而言，運(yùn)輸環(huán)境較操作環(huán)境更為嚴(yán)厲，故試驗(yàn)位準(zhǔn)應(yīng) 以前者為準(zhǔn)。然而，試件在操作環(huán)境中需功能正常，因此試件必須經(jīng)歷兩種沖擊狀況，即在運(yùn)輸環(huán)境后執(zhí)行參數(shù)量測(cè)，操作環(huán)境中執(zhí)行功能測(cè)試。

當(dāng)選用嚴(yán)厲度時(shí)，需考慮試驗(yàn)位準(zhǔn)與實(shí)際環(huán)境間之安全裕度。若實(shí)際操作或運(yùn)輸環(huán)境未知時(shí)，嚴(yán)厲度之選用可參考表。